Стенд для испытаний образцов систем хранения данных
|
РФ |
ПетрГУ |
|
2019 |
Измерительный модуль стенда для испытаний образцов твердотельных накопителей
|
Корея |
Neosem |
FX5e |
2018 |
Стенд для функционального тестирования образцов ИМСП
|
РФ |
ПетрГУ |
|
2018 |
Установка магнетронного напыления
|
Россия |
ООО «Вакуумные системы и электроника» |
VSE-PVD |
2019 |
Ультразвуковой анализатор SDT270
|
Бельгия |
SDT |
270 |
2019 |
Тепловизор Testo 882
|
Германия |
Testo |
882 |
2019 |
Измерительный модуль экспериментальной установки контроля качества гибридных многокристальных микросхем
|
Япония |
Hitachi |
TM3030 Plus |
2019 |
Виброанализатор в комплекте Corvet Advance+ для мониторинга и диагностики основного и вспомогательного оборудования
|
Россия |
НПО "ДИАТЕХ" |
Corvet Advance+ |
2019 |
Анализатор спектра Stanford Research Systems SR760
|
США |
Stanford Research Systems |
SR760 |
2017 |
Лицензионный класс по разработке печатных плат
|
США |
Cadence |
Allegro PCB Designer |
2017 |
Учебный класс в составе: цифровой осциллограф 2 канала, 70 МГЦ, комплект измерительных кабелей, мультиметр, мультиметр с встроенным источником питания, ручной измеритель RLC, мультиметр-калибратор, генератор сигналов 2 канала, 30 МГц, и т.д.
|
США |
Agilent Technologies |
DSO1072B, 34138A, UA, U3606B, U1733P, U1401B, 33520B, N2863B, 34133A, U1781A, U1161A |
2016 |
Зондовая станция Model W2.5 x L6.5 Mini Probe Station
|
США |
D-COAX |
W2.5 x L6.5 Mini Probe Station |
2015 |
Нагрузка электронная программируемая Good Will Instrument Co., Ltd. PEL-300
|
США |
Good Will Instrument Co., Ltd. |
PEL-300 |
2015 |
Осциллограф Fluke 190-204
|
Германия |
Rohde & Schwarz |
HM8123 |
2015 |
Частотомер Rohde & Schwarz HM8123
|
Германия |
Rohde & Schwarz |
HM8123 |
2015 |
Анализатор спектра Tektronix RSA306
|
США |
Tektronix |
RSA306 |
2015 |
Генератор сигналов Keysight N5183b
|
США |
Keysight Technologies |
N5183b |
2016 |
Цифровой осциллограф MSOX2024A, 4+8 каналов, 200МГц, Agilent Technologies
|
США |
Agilent Technologies |
MSOX2024A |
2016 |
Осциллограф Tektronix DPO70404c
|
США |
Tektronix |
DPO70404c |
2016 |
Литографическая система NanoMaker-Writer
|
Россия |
Interface Ltd |
NanoMaker-Writer |
2016 |
Аппаратный комплекс для определения рельефа поверхности, Интегра
|
Россия |
ЗАО "НТ-МТД" |
Интегра |
2014 |
Программно-аппаратный комплекс для определения температурных и гравиметрических параметров (TGA) Hitachi STA7300
|
Япония |
Hitachi Hith-Tech Science |
STA7300 |
2014 |
Установка для получения магнитомягких материалов, Melt-spinner
|
Россия |
Петрозаводский государственный университет (самосбор) |
Melt-spinner |
2012 |
Высокопроизводительный компьютерный кластер Hewlett-Packard Linux IA-64
|
США |
Hewlett-Packard |
Integrity rx5670-4 Server |
2003 |
Текстурный Дифрактометр Philips Analytical Systems со структурным гониометром Huber 4020
|
Швеция |
Philips Analytical Systems |
4020 |
1998 |
Шаровая мельница ASI Uni-Ball-Mill-II
|
Австралия |
ASI |
Uni-Ball-Mill-II |
2000 |
Установка для сверхбыстрого расплава материалов, RTA Heatpulse 410
|
Швеция |
A6 Associates |
Heatpulse 410 |
2012 |
Спектрометр ферромагнитного резонанса в составе генератора импульсов Hewlett Packard 8015A, генератора частоты Wiltron Model 6100, импедансометра мультичастотного Hewlett Packard 4275A, генератора сигнала Hewlett Packard 8656B
|
США |
Hewlett-Packard |
8015A |
2012 |
Векторный анализатор с блоком измерения Hewlett-Packard 4194A
|
США |
Hewlett-Packard |
4194A |
2002 |
Дифрактометр Kristalloflex Siemens 5000
|
Дифрактометр Kristalloflex Siemens 5000 |
Siemens |
Kristalloflex Siemens 5000 |
1998 |
Класс переподготовки инженеров электронной промышленности
|
Россия |
Oldi Computers |
305 |
2013 |
Установка лазерной безмасковой фотолитографии μPG101
|
Германия |
Hidelberg InstrumentsMikrotechnik GmbH |
mPG101 |
2012 |
3D сканер «ARTEC» модель EVA
|
Люксембург |
Artec Group |
EVA |
2013 |
Установка УМС-ЗКП термокомпрессионной сварки золотой проволоки, фольги и «ПИН» диодов расщепленным электродом
|
Россия |
ЗАО "МЕТТЭМ–Производство" |
УМС-ЗКП |
2013 |
Скалярный анализатор спектра SPECTRAN HF-6080
|
Германия |
SPECTRAN |
HF-6080 |
2012 |
Системы вакуумной откачки BALZERS, EDWARDS, LEROY SOMER, ALCATEL
|
США, Великобритания, Китай |
ALCATEL |
BALZERS, EDWARDS, LEROY SOMER, ALCATEL |
2010 |
Печь вакуумная серии SVF-1200X80
|
США |
SVF |
1200X80 |
2012 |
Высокоскоростная видеокамера Fastec HiSpec 1
|
США |
Fastec |
HiSpec 1 |
2013 |
Электроизмерительная лаборатория, в составе: USB-модулей сбора данных Keithley KUSB-3108, интерфейсных адаптеров USB-GPIB Keithley KUSB-488B, источников питания, измерителей Keithley 2636A
|
США |
Keithley Instruments, Inc. |
KUSB-3108, KUSB-488B, 2636A |
2011 |
Программируемый прибор для измерения различных параметров импеданса (RLC-метр) QuadTech 7600 Plus
|
США |
QuadTech |
7600 Plus |
2011 |
Установка быстрого прототипования Dimension Elite 3D Printer
|
Швеция |
Stratsys |
Dimension Elite |
2011 |
Лаборатория интеллектуальных средств измерений National Instruments
|
США |
National Instruments |
|
2013 |
Сканирующий электронный микроскоп с ЭДС спектрометром HitachiSU1510 совместно с модулями пробоподготовки, напыления металлов и охлаждения/нагрева образцов
|
Япония |
HITACHI |
HitachiSU1510 |
2013 |
Высоковакуумная установка магнетронного осаждения АТС ORION-5
|
США |
AJA Int. |
ORION-5 |
2012 |
Установка для микротравления Veeco 7760
|
США |
Veeco Instruments |
7760 |
1998 |
Лабораторный комплекс по разработке и созданию беспроводных сетей нового поколения в составе осциллографов WaveRunner Xi-A WR 44Xi-A, LeCroy WaveAce WA102, LeCroy WA212, LeCroy WJ324A, генераторов сигнала, источников питания, и др.
|
США |
LeCroy Corporation, Agilent |
WaveAce WA102, WA212, WJ324F |
2010 |
Двухпортовый векторный анализатор цепей Agilent E5071C-280 с калибровочным комплектом Agilent 85032F
|
США |
Agilent |
E5071C-280, 85032F |
2010 |
Профилометр модель 130
|
Россия |
ОАО «Завод ПРОТОН-МИЭТ» |
ЛабоМет–2 |
2007 |
Лаборатория оптической микроскопии в составе 3 оптических микроскопов ЛабоМет-2
|
Россия |
Labor-microscopes |
ЛабоМет–2 |
2008 |
Лаборатория сканирующей атомно-силовой микроскопии в составе 4х зондовых сканирующих микроскопов «СММ-2000», 1го атомно-силового микроскопа Aris3300
|
РФ, Соединенное королевство |
ОАО «Завод ПРОТОН-МИЭТ», Burleigh |
СММ-2000, Aris3300 |
2005/2012 |
Атомно-абсорбционный спектрометр МГА 915
|
Россия |
ООО "Люмэкс" |
МГА 915 |
2003 |
Вакуумные посты с ионно-лучевой приставкой для магнетронного распыления ВУП-5М
|
Украина |
ОАО "Селми" |
ВУП-5М |
2003 |
Хромато-масс спектрометрический комплекс в составе хроматографа Хроматек-Кристалл 5000 и масс-спектрометра DSQ
|
Россия |
ЗАО СКБ "Хроматек" |
Хроматек - Кристалл 5000, Масс-спектрометр DSQ |
2005 |