ПЕРЕЧЕНЬ ОБОРУДОВАНИЯ

Наименование СтранаИзготовительМаркаГод
Хромато-масс спектрометрический комплекс в составе хроматографа Хроматек-Кристалл 5000 и масс-спектрометра DSQ
Россия ЗАО СКБ "Хроматек" Хроматек - Кристалл 5000, Масс-спектрометр DSQ 2005
Вакуумные посты с ионно-лучевой приставкой для магнетронного распыления ВУП-5М
Украина ОАО "Селми" ВУП-5М 2003
Атомно-абсорбционный спектрометр МГА 915
Россия ООО "Люмэкс" МГА 915 2003
Лаборатория сканирующей атомно-силовой микроскопии в составе 4х зондовых сканирующих микроскопов «СММ-2000», 1го атомно-силового микроскопа Aris3300
РФ, Соединенное королевство ОАО «Завод ПРОТОН-МИЭТ», Burleigh СММ-2000, Aris3300 2005/2012
Лаборатория оптической микроскопии в составе 3 оптических микроскопов ЛабоМет-2
Россия Labor-microscopes ЛабоМет–2 2008
Профилометр модель 130
Россия ОАО «Завод ПРОТОН-МИЭТ» ЛабоМет–2 2007
Двухпортовый векторный анализатор цепей Agilent E5071C-280 с калибровочным комплектом Agilent 85032F
США Agilent E5071C-280, 85032F 2010
Лабораторный комплекс по разработке и созданию беспроводных сетей нового поколения в составе осциллографов WaveRunner Xi-A WR 44Xi-A, LeCroy WaveAce WA102, LeCroy WA212, LeCroy WJ324A, генераторов сигнала, источников питания, и др.
США LeCroy Corporation, Agilent WaveAce WA102, WA212, WJ324F 2010
Установка для микротравления Veeco 7760
США Veeco Instruments 7760 1998
Высоковакуумная установка магнетронного осаждения АТС ORION-5
США AJA Int. ORION-5 2012
Сканирующий электронный микроскоп с ЭДС спектрометром HITACHI SE9010 совместно с модулями пробоподготовки, напыления металлов и охлаждения/нагрева образцов
Япония HITACHI SE9010 2013
Лаборатория интеллектуальных средств измерений National Instruments
США National Instruments 2013
Установка быстрого прототипования Dimension Elite 3D Printer
Швеция Stratsys Dimension Elite 2011
Программируемый прибор для измерения различных параметров импеданса (RLC-метр) QuadTech 7600 Plus
США QuadTech 7600 Plus 2011
Электроизмерительная лаборатория, в составе: USB-модулей сбора данных Keithley KUSB-3108, интерфейсных адаптеров USB-GPIB Keithley KUSB-488B, источников питания, измерителей Keithley 2636A
США Keithley Instruments, Inc. KUSB-3108, KUSB-488B, 2636A 2011
Высокоскоростная видеокамера Fastec HiSpec 1
США Fastec HiSpec 1 2013
Печь вакуумная серии SVF-1200X80
США SVF 1200X80 2012
Системы вакуумной откачки BALZERS, EDWARDS, LEROY SOMER, ALCATEL
США, Великобритания, Китай ALCATEL BALZERS, EDWARDS, LEROY SOMER, ALCATEL 2010
Скалярный анализатор спектра SPECTRAN HF-6080
Германия SPECTRAN HF-6080 2012
Установка УМС-ЗКП термокомпрессионной сварки золотой проволоки, фольги и «ПИН» диодов расщепленным электродом
Россия ЗАО "МЕТТЭМ–Производство" УМС-ЗКП 2013
3D сканер «ARTEC» модель EVA
Люксембург Artec Group EVA 2013
Установка лазерной безмасковой фотолитографии μPG101
Германия Hidelberg InstrumentsMikrotechnik GmbH mPG101 2012
Класс переподготовки инженеров электронной промышленности
Россия Oldi Computers 305 2013
Дифрактометр Kristalloflex Siemens 5000
Дифрактометр Kristalloflex Siemens 5000 Siemens Kristalloflex Siemens 5000 1998
Векторный анализатор с блоком измерения Hewlett-Packard 4194A
США Hewlett-Packard 4194A 2002
Спектрометр ферромагнитного резонанса в составе генератора импульсов Hewlett Packard 8015A, генератора частоты Wiltron Model 6100, импедансометра мультичастотного Hewlett Packard 4275A, генератора сигнала Hewlett Packard 8656B
США Hewlett-Packard 8015A 2012
Установка для сверхбыстрого расплава материалов, RTA Heatpulse 410
Швеция A6 Associates Heatpulse 410 2012
Шаровая мельница ASI Uni-Ball-Mill-II
Австралия ASI Uni-Ball-Mill-II 2000
Текстурный Дифрактометр Philips Analytical Systems со структурным гониометром Huber 4020
Швеция Philips Analytical Systems 4020 1998
Высокопроизводительный компьютерный кластер Hewlett-Packard Linux IA-64
США Hewlett-Packard Integrity rx5670-4 Server 2003
Установка для получения магнитомягких материалов, Melt-spinner
Россия Петрозаводский государственный университет (самосбор) Melt-spinner 2012
Программно-аппаратный комплекс для определения температурных и гравиметрических параметров (TGA) Hitachi STA7300
Япония Hitachi Hith-Tech Science STA7300 2014
Аппаратный комплекс для определения рельефа поверхности, Интегра
Россия ЗАО "НТ-МТД" Интегра 2014
Литографическая система NanoMaker-Writer
Россия Interface Ltd NanoMaker-Writer 2016
Осциллограф Tektronix DPO70404c
США Tektronix DPO70404c 2016
Цифровой осциллограф MSOX2024A, 4+8 каналов, 200МГц, Agilent Technologies
США Agilent Technologies MSOX2024A 2016
Генератор сигналов Keysight N5183b
США Keysight Technologies N5183b 2016
Анализатор спектра Tektronix RSA306
США Tektronix RSA306 2015
Частотомер Rohde & Schwarz HM8123
Германия Rohde & Schwarz HM8123 2015
Осциллограф Fluke 190-204
Германия Rohde & Schwarz HM8123 2015
Нагрузка электронная программируемая Good Will Instrument Co., Ltd. PEL-300
США Good Will Instrument Co., Ltd. PEL-300 2015
Зондовая станция Model W2.5 x L6.5 Mini Probe Station
США D-COAX W2.5 x L6.5 Mini Probe Station 2015
Учебный класс в составе: цифровой осциллограф 2 канала, 70 МГЦ, комплект измерительных кабелей, мультиметр, мультиметр с встроенным источником питания, ручной измеритель RLC, мультиметр-калибратор, генератор сигналов 2 канала, 30 МГц, и т.д.
США Agilent Technologies DSO1072B, 34138A, UA, U3606B, U1733P, U1401B, 33520B, N2863B, 34133A, U1781A, U1161A 2016